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JJ X-Ray
X 射線發(fā)射譜(X-ray Emission Spectroscopy, XES)是一種通過分析材料中X 射線發(fā)射過程中能量分布,深入研究物質(zhì)電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)的技術(shù)。
近日,JJ X-Ray首席執(zhí)行官Christian及應(yīng)用專家與麥迪森科技團(tuán)隊一行訪問了中國散裂中子源(CSNS),致力于解決用戶在使用位移臺產(chǎn)品過程中遇到的問題。
JJ X-Ray提供的CRL系統(tǒng)多采用拋物線形透鏡,可搭配五軸調(diào)整平臺(5 Axis Alignment Stage),實(shí)現(xiàn)對透鏡方向5個自由度的調(diào)節(jié),即俯仰角(Pitch)、偏航角(Yaw)及X、Y、Z三個方向位置的調(diào)節(jié)。
在進(jìn)行同步輻射相關(guān)實(shí)驗時,為了獲得較高的空間分辨率,通常需要利用聚焦元器件將X射線進(jìn)行聚焦。
在同步輻射光源中,通常使用的是超高真空狹縫。X射線根據(jù)其光束模式一般可分為三類:白色光束(White Beam)、粉紅色光束(Pink Beam)和單色光束(Monochromatic Beam)。
本周四,JJ X-Ray公司應(yīng)用專家孫兆宗博士在中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)做了專題報告——“為同步輻射光源提供完整光束線解決方案”。
近日,JJ X-Ray在高能同步輻射光源(HEPS)現(xiàn)場順利交付一批狹縫產(chǎn)品,其中包括多種型號的空氣狹縫和超高真空狹縫,如IB-C30-AIR和IB-C30-UHV。
JJ X-Ray可提供在真空環(huán)境下使用的狹縫產(chǎn)品。
JJ X-Ray提供多種類型的狹縫。根據(jù)不同的使用環(huán)境,這些狹縫可分為空氣狹縫(AIR)、高真空狹縫(<10-5mbar)(High Vacuum, HV)和超高真空狹縫(<10-8mbar)(Ultra High Vacuum, UHV)。
同步輻射光源是指電子以接近光速在磁場中做曲線運(yùn)動時,在切線方向上發(fā)射出的電磁輻射。